상품명 | Table-top Scanning Electron Microscope(SEM) EM-30N |
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국내·해외배송 | 국내배송 |
배송방법 | 택배 |
배송비 | 4,000원 (500,000원 이상 구매 시 무료) |
제조사 | COXEM |
상품간략설명 | 고배율에서 노이즈없이, 선명한 영상을 관찰할 수 있으며, 파노라마 기능을 이용하여 보다 넓은 영역 스캔이 가능합니다. 또한, EDS와의 자유로운 호환을 통해 최적의 성능을 구현할 수 있습니다. |
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제품소개
고배율에서 노이즈없이, 선명한 영상을 관찰할 수 있으며, 파노라마 기능을 이용하여 보다 넓은 영역 스캔이 가능합니다. 또한, EDS와의 자유로운 호환을 통해 최적의 성능을 구현할 수 있습니다.
어플리케이션
| EM-30N | EM-30AXN |
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Magnification | 15-150,000X | |
Spatial Resoultion | <5nm at 30kV | |
Vacuum Mode | HV (Standard) | |
Acceleration Voltage | 1 - 30kV (adjustable in 1kV scale) | |
Electron Source | Pre-Centered Tungsten Filament | |
Detector | SED(DP), BSED(DP) | SED(DP), BSED(DP), EDS |
Sample Size | 70mm (W) x 45mm (H) | |
X-Y/T Traverse | 35x35mm / 0 - 45º | |
Automation | Focus, Filament, Brightness/Contrast | |
Data Output Format | jpg, tiff, BMP | |
Dimensions | 400 x 600 x 550 mm | |
Weight | 85 kgs | 95 kgs |
Options | STEM CoolStage Panorama 2.0 30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis) 30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included) |
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